Im Oktober war Prof. Klös, Leiter der Device Modeling Research Group (Nanoelektronik - Organische Elektronik - Neuromorphic Computing) und Dekan unseres Fachbereichs, eingeladen auf der internationalen Konferenz LAEDC seine Forschungsergebnisse zu präsentieren. In Guadalajara (Mexiko) stellte er in seinem Vortrag ein Verfahren vor, welches eine numerisch effiziente Schaltungssimulation von Mikrochips unter Berücksichtigung statistischer Schwankungen des Verhaltens einzelner Bauelemente erlaubt.

Diese Streuungen treten z. B. aufgrund von Schwankungen im Herstellungsprozess auf. In der Nanoelektronik tritt die Streuung des elektrischen Verhaltens verstärkt in Erscheinung, da die Strukturabmessungen der Transistoren in der atomaren Größenordnung der Kristallstruktur der Halbleitermaterialien liegen. Daher ist hier eine Abschätzung des Einflusses dieser statistischen Schwankungen auf die Funktion der mikroelektronischen Schaltung schon im Schaltungsentwurf besonders wichtig.

Die IEEE Latin American Electron Devices Conference (LAEDC) ist die führende Konferenz auf dem Gebiet elektronischer Bauelemente in Lateinamerika und bringt Forscher, Studierende und Industrievertreter zusammen. Der diesjährige Konferenzort Guadalajara befand sich in der Provinz Jalisco, die für die Elektronikfertigung große Bedeutung hat. Im Bereich der Mikroelektronik gewinnt die Region zunehmen an Bedeutung im Bereich Packaging und Assembly.